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Contribución a las metodologías de auto-test para circuitos VLSI, basadas en la generación de vectores aleatorios ponderados.
Tesis Doctorales
[1]
Fecha :
Jue, 15/09/1994
Calificación:
Aprobado
URL del envío:
https://www.die.upm.es/grupo_de_investigacion/8/miembro/contribuci%C3%B3n-las-metodolog%C3%AD-de-auto-test-para-circuitos-vlsi-basada
Enlaces:
[1] https://www.die.upm.es/category/categoria/tesis-doctorales