Published on
DIE
(
https://www.die.upm.es
)
Home
> Printer-friendly
Contribución a las metodologías de auto-test para circuitos VLSI, basadas en la generación de vectores aleatorios ponderados.
Tesis Doctorales
[1]
Fecha :
Thu, 15/09/1994
Calificación:
Aprobado
Source URL:
https://www.die.upm.es/en/node/650
Links:
[1] https://www.die.upm.es/en/category/categoria/tesis-doctorales